ПАРАМЕТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

ПАРАМЕТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

В случае использования устройства Flying Probe (т.е. “летающих зондов”) предотвращается  механическое контактирование, поскольку  устройство само перемещает свои измерительные зонды в тестируемые точки.

Эта технология позволяет проводить параметрические испытания  малосерийной продукции или опытных образцов.

Устройство Flying Probe последнего поколения и два внутрисхемных тестера ICT позволяют  выполнять автоматически любые параметрические испытания  абсолютно самостоятельно и с максимальной точностью.

Разработка тестовых программ осуществляется нашим высокоспециализированным персоналом, обученным компанией,  являющейся мировым лидером в этом виде испытаний.

Чрезвычайно важно выполнять параметрические испытания как на предварительной серии, так и на крупносерийном производстве, но с малыми затратами и с высокой степенью точности, необходимой для новых технологий.

Для нас все это возможно благодаря  значительному  и разнообразному арсеналу оборудования SpeA.

Тест  in-circuit,  с момента его изобретения  позволяет проводить тестирование каждого отдельного компонента на плате.

 Внутрисхемный тест  ICT в основном используется для обнаружения дефектов  производства, например таких, как отсутствующие  компоненты, неверно смонтированные или расположенные компоненты, короткие замыкания и обрывы , обратная полярность расположенных компонентов и так далее.

В тест входят как  механическое контактирование  net (игольчатый адаптер или fixture), так и программа  SW анализа цепей. В этом случае для тестирования необходимо специальное  оборудование (специфичное для каждой ПП ), включающее механическое контактирование  и программу тестирования.